近期，克萊姆森大學研究團隊在《Journal of Luminescence》發(fā)表重要成果，通過 Freiberg Instruments Lexsyg Research釋光光譜儀等先進設備，系統(tǒng)闡明了六方相BiPO?的復雜發(fā)光機制，解決了該材料長期存在的學術爭議。研究中，lexsyg Research釋光熒光光譜儀在揭示關鍵發(fā)光現象中發(fā)揮了不可替代的作用。

重要發(fā)現：五重發(fā)光之謎終解開

研究團隊通過精確調控激發(fā)波長（250–460 nm），結合lexsyg熒光光譜儀的高靈敏度RL（輻射發(fā)光）測試，在六方相BiPO?中發(fā)現多達5種發(fā)光中心：

1、350 nm藍光（缺陷發(fā)光）

2、405 nm紫光（金屬間電荷轉移MMCT）

3、570 nm黃光（Bi³?的³P?→¹S?躍遷）

4、445 nm/490 nm雙峰藍綠光（Ce³?的5d→4f躍遷）

5、擾動態(tài)Bi³?（氧空位導致能級紅移）

圖1 發(fā)光峰位置與激發(fā)波長關系

Lexsyg的關鍵貢獻：RL測試打破傳統(tǒng)認知

通過Lexsyg光譜儀的RL測試模塊（40 kV X射線激發(fā)），研究團隊發(fā)現：

1、Ce³?在X射線激發(fā)下不發(fā)光（圖2），而Bi³?擾動態(tài)主導630 nm發(fā)射；

2、發(fā)光強度只有為BGO閃爍體的0.015%，證明其不適合作為Ce³?閃爍體材料。

圖2 RL光譜揭露Ce³?猝滅現象

爭議終結：修正文獻錯誤結論

研究團隊對比近20篇爭議文獻，首先指出：

1、過往報道的“Ce³?在352–459 nm發(fā)光”實則為MMCT或缺陷發(fā)光；

2、真實Ce³?發(fā)光位于445/490 nm雙峰（△E=0.26 eV，符合自旋軌道劈裂）。

研究利器：lexsyg如何揭示真相

1、多模式聯用：結合PL（光致發(fā)光）、PLE（激發(fā)光譜）、RL（輻射發(fā)光）全方面分析；

2、高精度RL測試：通過連續(xù)X射線激發(fā)（鎢靶，40 kV/1 mA），模擬閃爍體真實工況；

3、超級低溫探測：-80°C冷卻CCD大幅降低噪聲，捕獲弱發(fā)光信號。

結論與啟示

本研究不只解決了BiPO?的發(fā)光爭議，更展示了Freiberg Instruments Lexsyg Research先進釋光光譜技術對材料研究的重要價值：“lexsyg的RL測試證明，BiPO?中空穴被Bi³?局域化捕獲，導致Ce³?無法參與閃爍發(fā)光。”

在材料科學飛速發(fā)展的現在，精確的表征工具是科研突破與產業(yè)升級的 “基石”。Freiberg Instruments Lexsyg Research 以其 “高穩(wěn)定、高靈敏、高精確” 的重要優(yōu)勢，已成為全球眾多高級科研機構（如 Clemson University）與企業(yè)的優(yōu)先選擇放射發(fā)光測試設備。

無論您是從事閃爍體研發(fā)、稀土材料表征，還是光催化研究，Lexsyg Research 都能為您提供 “從數據到結論” 的可靠支撐，助力您的研究更快出成果、產品更快推向市場。

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論文地址：researchgate.net/publication/344145593_Luminescence_of_undoped_and_Ce-doped_hexagonal_BiPO4