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會議簡介尊敬的用戶和合作伙伴您好，感謝布魯克光譜部門的大力支持，“布魯克工業(yè)應(yīng)用技術(shù)研討會”將于2025年8月25-26日在束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司倫琴實(shí)驗(yàn)室舉行！屆時布魯克和倫琴實(shí)驗(yàn)室的應(yīng)用專家，將介紹最新的核磁共振（NMR）、X射線、原子力顯微鏡和光譜產(chǎn)品及應(yīng)用解決方案，并在介紹之后演示我們的儀器。我們與布魯克誠摯地邀請您參加本次研討會，束蘊(yùn)儀器與您在上海不見不散！會議時間2025年8月25-26日（兩天）會議地址倫琴實(shí)驗(yàn)室&束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司地址：上海市松江區(qū)莘磚...

XRM應(yīng)用文章布魯克納米CT賦能！仿生氣凝膠止血研究成果榮登《NanoLett.》1引言近日，一篇題為“CentrifugalSpinning-DerivedBiomimeticAerogelforRapidHemostasiswithMinimalBloodLoss”的研究論文在國際期刊《NanoLett.》（2025,25,6040?6050）發(fā)表。本文第一作者是東華大學(xué)紡織學(xué)院博士生符芬，通訊作者為東華大學(xué)紡織學(xué)院王富軍教授、曾泳春教授和趙帆特聘研究員。該研究聚焦于緊急...

在物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)的探測領(lǐng)域中，X射線衍射與電子衍射是兩種極為重要的衍射技術(shù)，它們既有著鮮明的本質(zhì)區(qū)別，又存在一定的內(nèi)在聯(lián)系。X射線衍射，其原理基于X射線的波動性以及晶體中原子的周期性排列。X射線是一種波長與原子間距相當(dāng)?shù)碾姶挪?，?dāng)它入射到晶體樣品時，晶體中的原子作為散射中心，會對X射線產(chǎn)生散射作用。根據(jù)布拉格定律，當(dāng)入射X射線與晶面之間的夾角滿足特定條件時，各原子散射的X射線會在特定方向上相互干涉加強(qiáng)，形成衍射花樣。這種衍射能夠精準(zhǔn)地反映出晶體的晶格結(jié)構(gòu)、晶面間距等微觀結(jié)構(gòu)信息...

在材料科學(xué)、物理學(xué)以及化學(xué)等諸多領(lǐng)域的研究進(jìn)程中，精準(zhǔn)解析物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)至關(guān)重要。多晶X射線衍射儀與單晶衍射儀作為兩大核心探測工具，雖都基于X射線與晶體相互作用原理，卻在諸多方面存在明顯區(qū)別。從樣品要求來看，多晶衍射儀主要針對多晶樣品，無論是常見的金屬粉末、陶瓷顆粒，還是經(jīng)過特殊處理呈多晶態(tài)的塊狀材料，都能適配。這類樣品內(nèi)部晶粒取向隨機(jī)，眾多微小晶粒匯聚，整體呈現(xiàn)出統(tǒng)計(jì)平均的衍射效果。而單晶衍射儀則專攻單晶樣品，像精心培育的單晶硅、某些天然礦物的單晶體等，其內(nèi)部原子排列在三維...

在材料結(jié)構(gòu)分析領(lǐng)域，X射線衍射和電子衍射（如透射電鏡中的選區(qū)電子衍射SAED）是兩種重要的技術(shù)手段，它們在多個方面存在顯著差異。從光源特性來看，X射線衍射使用的X射線波長較短，通常在0.01-10納米范圍，能量較高，能穿透較厚樣品，對晶體內(nèi)部深層結(jié)構(gòu)信息探測能力強(qiáng)。而電子衍射中，電子束的波長極短，可小于0.01納米，這使得其分辨率遠(yuǎn)高于X射線衍射，能觀察到更微觀的晶體結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)，但電子穿透能力弱，樣品需極薄，一般要求在納米級厚度。在衍射原理上，X射線衍射基于布拉格方程，當(dāng)X射線...

在線X射線衍射儀（XRD）以其高效、實(shí)時的物相分析能力，在材料科學(xué)、化學(xué)工程及生物醫(yī)藥等領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用。然而，對于非晶體或液態(tài)樣品，其適用性常引發(fā)討論。下面將從技術(shù)原理、實(shí)際應(yīng)用及局限性等方面探討這一問題。一、技術(shù)原理與非晶體/液態(tài)樣品的特性XRD的核心原理基于晶體對X射線的衍射效應(yīng)，通過布拉格定律分析晶面間距，從而推斷物質(zhì)結(jié)構(gòu)。晶體樣品因其長程有序的原子排列，能產(chǎn)生清晰的衍射峰，適合XRD分析。然而，非晶體（如玻璃、高分子材料）和液態(tài)樣品缺乏周期性結(jié)構(gòu)，無法形成典型的衍...

二次離子質(zhì)譜儀（SIMS）在材料分析、表面科學(xué)等領(lǐng)域有著至關(guān)重要的地位，其分析深度和橫向分辨率的精準(zhǔn)控制對于獲得準(zhǔn)確且有價值的分析結(jié)果意義非凡。分析深度的控制是SIMS技術(shù)的關(guān)鍵要素之一。首先，離子束的能量起著基礎(chǔ)性作用。較高能量的一次束離子能夠更深入地轟擊樣品表面，從而增加分析深度。通過精確調(diào)節(jié)離子源的加速電壓，可以有效地改變一次束離子的能量，實(shí)現(xiàn)對分析深度的初步調(diào)控。例如，在研究多層薄膜結(jié)構(gòu)時，若需要分析底層薄膜元素組成，可適當(dāng)提高離子束能量以穿透上層薄膜到達(dá)目標(biāo)深度。此...

在半導(dǎo)體材料與器件研究的精密世界里，少子壽命測試儀探尋著半導(dǎo)體內(nèi)部少數(shù)載流子壽命的奧秘，為優(yōu)化材料性能、提升器件品質(zhì)提供關(guān)鍵線索。少子壽命測試儀的運(yùn)行，始于對樣品的精細(xì)安置。待測半導(dǎo)體樣品被妥善放置在測試臺上，連接好電極，構(gòu)建起穩(wěn)定的電學(xué)回路，儀器核心的激發(fā)源隨即啟動，通常采用脈沖激光或電子束照射樣品。這一束光或電子，恰似吹響沖鋒號的先鋒，瞬間注入半導(dǎo)體內(nèi)部，打破熱平衡狀態(tài)，激發(fā)產(chǎn)生大量電子-空穴對，其中少數(shù)載流子（電子或空穴，取決于半導(dǎo)體類型）成為這場探測之旅的主角。當(dāng)這些...